DIC全场应变测量系统

非接触 | 全场同步 | 直观可视

  数字图像相关法( Digital Image Correlation )通过将被称为散斑图案( Speckle Pattern )的随机图案喷涂于待测表面,并通过比较和分析变形前后的图像来解析样品变形的程度。不仅可以检测变形量而且可以检测变形方向。通过执行亚像素插值,能够具有 10~100 分之一像素的位移分辨率,作为一种高精度测量方法在近年被广泛关注。可以以非接触和非破坏性方式定量化物体的弯曲和变形。另外,通过使用高速摄像机,还可以分析高速现象和振动。

 

  • 测量坐标,位移,速度,应变,形状和变形
  • 矢量图/等高线图
  • 支持的图像格式:TIFF
  • 易于使用和直观的界面
  • 离线分析,在线分析 (可选), 3D分析 (可选)
  • 进程树结构
  • 丰富的后处理功能 (FFT分析,POD分析等)
  • 适用于各种高速摄像机和高分辨率摄像机
  • 提供日语和英语